Wracamy do odcisków palców. Aktualnie stosowana metoda polega na wykorzystaniu cyjanoakrylu w połączeniu z jakimś barwnikiem. Cyjanoakryl polimeryzuje się w miejscu, w którym pozostawiliśmy nasz odcisk pod wpływem odrobiny wody, która się w nim znajduje. Stąd też, możemy zatrzeć nasze ślady przy pomocy czegokolwiek nadającego się do zacierania.
Zawodowi przestępcy o tym widzą, przez co śledczy badający miejsca zbrodni bardzo często nie są w stanie znaleźć tam żadnych śladów, pozwalających na poprowadzenie śledztwa dalej. Naukowcy z University of Nottingham twierdzą, że w tej kwestii są w stanie pomóc. I to bardzo. Nowa, opracowana przez nich metoda, która wykorzystuje spektroskopię jonową pozwala na odzyskanie odcisków palców nie tylko z w miarę płaskich powierzchni i – co najważniejsze – nawet, jeśli ktoś wcześniej starał się je wytrzeć. Twórcy sami przyznają, że ich priorytetem było opracowanie skutecznej metody pobierania odcisków palców z łusek.
Chociaż zarówno wystrzelone, jak i niewypalone łuski często można znaleźć na miejscu brutalnych przestępstw, odzyskanie odcisków palców okazywało się trudne lub wręcz niemożliwe ze względu na warunki fizyczne, jakich doświadczają łuski pocisków podczas wystrzału.
Odciski palców z łusek – dlaczego jest to takie trudne?
Po wystrzeleniu pocisku obudowa doświadcza wysokich temperatur, ciśnień i dużych sił tarcia wewnątrz lufy pistoletu. Do tego bardzo często jest ona również pokryta resztkami prochu wprawiającego pocisk w ruch. Te bardzo ekstremalne (choć krótkotrwałe) czynniki sprawiają, że tradycyjny odcisk palca znajdujący się potencjalnie na łusce nie nadaje się do odczytu.
Metoda ToF-SIMS to czuła technika analizy powierzchni, która dostarcza bardzo szczegółowych informacji o lokalizacji różnych związków chemicznych na badanym obszarze. Technika ta wykorzystuje wysokoenergetyczne (zwykle do 30 keV) wiązki jonów dodatnich skierowane na powierzchnię próbki w celu uwolnienia jonów wtórnych z dowolnego materiału, z którym się zderzają. Jony te są następnie przyspieszane w analizatorze czasu przelotu i rozdzielane zgodnie z ich stosunkiem masy do ładunku, tworząc widmo wskazujące na skład chemiczny próbki.
Czytaj również: Chińscy hakerzy sklonowali odcisk palca
Brzmi to bardzo skomplikowanie, ale chodzi o to, że chemiczny skład naszego odcisku palca, wchodzi w interakcję powierzchni łuski i – w bardzo mocnym uproszczeniu – wytrawia na niej wzór naszych linii papilarnych. Technika ToF-SIMS jest w stanie ten wzór pokazać dzięki bombardowaniu tej powierzchni jonami.
Metoda ta udoskonalana jest przez naukowców z University of Nottingham i chętnie udostępniana tamtejszym stróżom prawa, którzy dzięki ToF-SIMS byli w stanie wznowić już kilka dochodzeń. Teraz, dzięki opracowaniu sposobu odzyskiwania odcisków z niepłaskich powierzchni, takich jak łuski, metoda ta stanie się jeszcze bardziej skuteczna. O ile oczywiście przestępcy nie zaczną dotykać swojej broni i amunicji tylko i wyłącznie w rękawiczkach.
